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DAGE XD7800 X光查抄机



 

 

 

 

Dage XD7800VR或NT是特地用于大尺寸样品的X光无损检测的体系。

首要用于检测:电子元器件、PCBA 电路板外部焊接,短路,气孔,气泡,裂纹,及异物查抄。

首要特点:

1. 最小分辩率: 950 纳米 (0 .95 微米 );
2. 影象领受器摆布偏转角度各70 度(共 140 度),扭转 360 度;
3. 最大检测地区: 24 ” x 30” (610 x 762 mm );
4. 最大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm );
5. 最大样品分量: 10KG ;
6. 体系最大缩小倍数: 至 5650 X ;
7. 图象收罗: 1.3 M 数字 CCD ;
8. 显现器: 20" (DVI interface) 数字黑色平板 LCD

规格描写:

装备形状尺寸: 长: 1975mm 宽: 2400mm 高: 2060mm
分量:     3000kg
电源:     单相 220-230V, 最大 16A , 50 or 60 Hz
合适规范:   DEC; European CE Regulations; Safety Directive